ATECナノ粒子テクノロジーで、ナノテク実用化に貢献します

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ナノ粒子高性能ミキサーモニタリングシステム

エーテックでは新素材開発者の課題をサポートし、開発効率を大幅にアップする為に、攪拌機モニタリングシステムを開発致しました。

素材開発プロセスにおいて大きな成果を生み出す為には、素材の組合せにとどまらず、開発プロセスの大きなファクターとなる攪拌条件の最適化ニーズが一番大きな課題となりえるでしょう。

従来は経験的な勘によって条件を決め、後は回数を重ねて最適条件を割り出していました。また、その攪拌工程に最適な攪拌機を選定し、最適な条件で使用しているでしょうか?

エーテック高性能攪拌機モニタリングシステムはシンプルなシステムとリーズナブルなコストで攪拌条件を決定する上で必要なデータを自動検出し記録します。

1 回転数
2 攪拌能力
3 試料の温度
4 圧力
5 ペーハー
また、これらのデータをセンサーで検出パーソナルコンピューターに出力
できます。

モニタリングシステムの導入メリット
1 定量的データに基づき、攪拌条件設定が決定できる
2 各社攪拌機による攪拌効率を定量的に比較できる
3

経時変化を定量的にモニタリングでき、試料の状態を細かく管理することができる

4 攪拌の再現性が得られる
5 必要に応じ、センサーを追加できる
6 PAT導入にも威力を発揮します

弊社「ナノ粒子高性能ミキサーモニタリングシステム」は、健康食品や医薬品を中心に発展してきているプロセス・アナリシス・テクノロジー概念に基づいた、攪拌機モニタリングシステムである。

低コストで高い品質の製品製造にするために米国及び欧州では,製造プロセスの進行中に革新的に迅速な品質管理分析を行い,この結果を工程管理にフィードバックできる測定システムを生産工程に組み込み,プロセスの終了時点で最終製品の品質を保証できる製品製造工程の構築を可能とする。

この概念を用いた弊社「ナノ粒子高性能ミキサーモニタリングシステム」によるリアルタイムモニタリングシステムは、従来の品質管理の概念をさらに発展させた第2世代のQCとして,製造プロセスの進行中に,原料および中間製品の重要品質パラメーターおよび品質に影響する効力特性 (Performance Attributes) のタイムリーな測定,ならびにプロセスの終了時点で受け入れ可能な最終製品の品質を保証することのできる製造工程(PAT)の分析と管理に貢献できる。


PCの動作環境
パソコン IBM PC/AT互換機
OS Windows2000 WindowsXP
CPU PV600MHz以上
ディスプレイ XGA仕様(1024*768) 
ビデオメモリ 2MB以上
主メモリ 128MB以上
ハードディスク 内蔵HDを使用、1日あたり最大100MBを必要とする
プリンタ Windows環境で使用可能
CD-ROM インストール時必要
通信インタフェース RS‐232‐Cポート LANカード

適応機種 

DMM  DMMX DB60 DB100 DB125 

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